負(fù)極材料金屬顆粒檢測(cè)用飛納
簡(jiǎn)要描述:ParticleX Battery 是飛納推出的全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng),可用于負(fù)極材料金屬顆粒檢測(cè),幫助識(shí)別顆粒形貌和元素組成。
產(chǎn)品型號(hào): ParticleX Battery
所屬分類:飛納電鏡
更新時(shí)間:2026-07-16
廠商性質(zhì):其他
| 品牌 | Phenom 飛納電鏡 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 放大倍率 | 200,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 8 nm | 加速電壓 | 基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 高級(jí)模式 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào) |
ParticleX Battery 是飛納推出的全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng),可用于負(fù)極材料金屬顆粒檢測(cè),幫助識(shí)別顆粒形貌和元素組成。
ParticleX Battery 基于掃描電鏡與能譜分析方法,可自動(dòng)識(shí)別、分析和統(tǒng)計(jì)銅、鋅、鐵等金屬異物,適合鋰電池原材料、正負(fù)極材料及生產(chǎn)質(zhì)控環(huán)節(jié)的清潔度管控。
該系統(tǒng)具備自動(dòng)雜質(zhì)顆粒識(shí)別、自動(dòng)高清圖像采集、自動(dòng)能譜成分分析和自動(dòng)雜質(zhì)顆粒分類等功能。具體配置和價(jià)格根據(jù)檢測(cè)流程、樣品類型及分析目標(biāo)確定,可通過(guò)平臺(tái)詢價(jià)/留言入口獲取選型建議,并預(yù)約試樣。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 面向鋰電池清潔度分析和金屬異物管控。
2. 基于掃描電鏡 + 能譜法進(jìn)行顆粒識(shí)別和成分分析。
3. 可自動(dòng)識(shí)別、分析和統(tǒng)計(jì)銅、鋅、鐵等金屬異物。
4. 支持自動(dòng)雜質(zhì)顆粒識(shí)別。
5. 支持自動(dòng)高清圖像采集。
6. 支持自動(dòng)能譜成分分析。
7. 支持自動(dòng)雜質(zhì)顆粒分類。
8. 支持選型咨詢,可預(yù)約試樣。
應(yīng)用領(lǐng)域:
可用于負(fù)極材料金屬顆粒檢測(cè)、石墨負(fù)極材料質(zhì)控、清潔度分析、顆粒分類和研發(fā)檢測(cè)。
技術(shù)參數(shù):
產(chǎn)品型號(hào):ParticleX Battery
產(chǎn)品全稱:ParticleX Battery 鋰電清潔度
產(chǎn)品類型:全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)
光學(xué)放大:3 - 16 X
電子光學(xué)放大:200,000 X
分辨率:優(yōu)于 8 nm
電子槍:CeB6 燈絲,使用壽命優(yōu)于 3000 小時(shí)
光學(xué)導(dǎo)航相機(jī):彩色
加速電壓:基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
高級(jí)模式:4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào)
真空模式:低 / 中 / 高三種模式
探測(cè)器:背散射探測(cè)器、能譜探測(cè)器
可選探測(cè)器:二次電子探測(cè)器
全自動(dòng)功能:全自動(dòng)鋰電清潔度分析


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